光学系统的漂移，光路，光电（倍增）管，ＣＣＤ，光栅狭逢，分光系统等。

软件系统受干扰误判参数，程序指令等。

影响仪器漂移因数较多，归根结底主要是基线漂移导致测试参数发生漂移。

机械系统的漂移，真空度，光路的机械装置，气路管道及压力，炬管雾化等。

．电气参数的漂移主要是电子元件受温度影响，电子元件的老化，电源的干扰，电压，电流，传感器，仪器接地（地阻）的可靠性等。