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安捷伦FACT校正干扰物含量问题和谱线完全重叠和部分重叠分辨问题

我们知道谱线完全重叠时使用IEC校正,部分重叠时使用FACT校正,那么如何分辨谱线是完全重叠还是部分重叠呢?使用IEC校正时样品干扰物含量只要在干扰物的曲线范围内都能校正,那么使用FACT校正的时候跟干扰物的含量有关系么,那么做FACT模型时干扰物含量选取多大合适呢?有了解的老师方便指导一下么?
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