天平漂移一般指的是在稳定的外在环境（恒温、静态气氛或真空）下天平本身电子信号随时间的漂移。TG基线通常指的是动态升温条件下在样品实际无失重的情况下测到的表观增重或失重，由升温过程中炉腔内气体密度与吹扫力的变化等因素所引起（俗称浮力效应）。

天平里的基线是差热线的基线，是代测的物质与参比物的温度差随温度变化的曲线，TG基线是纪录物质质量随温度变化的曲线，是两条不同的基线。

应该是一回事。可以让仪器恒温一段时间，记录曲线，测定其漂移量。