ICP多元素测定过程
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ICP多元素测定过程的空白

si含量高,是否接触到玻璃器皿加热之后氢氟酸? 硅也就挥发了吧? 3 回答 ·  5 关注
共3个回答
怀疑空白被污染 一个空白? 单次测定不可靠? 建议多做几个空白? 多次测定
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空白也太高了
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多做几个平行样品,验正下,平行样之间差异,假如没有差异,可能你们的样品就有,同时测测留样复测样品,看结果有无差异。
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