纯钨中微量Si,Mg,Ti含量分析.
如题,用ICP-OES在分析,Si,Mg,Ti的含量很低,10到50PPM,因为W对上述几个元素的干扰很多,找了好多条线,结果不是很理想.据有关文摘介绍,说是用离子交换法把W元素分离后再测试.具体的操作方法,用的是什么树脂?方法精密度如何,回收率多少等,具体的细节不是很清楚,大家有没有做过这方面的实验,一起来讨论讨论吧. 展开全部∨ 3 回答 · 3 关注共3个回答
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改用标准加入法，应该是可以的
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瓦里安的工程师告诉我说，如果ICP存在光谱干扰，那么同样的道理，原子吸收也会有，只不过是因为原子吸收无法直观的体现出来，所以那种结果也只是自我安慰罢了，也不知道怎样才好。
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如果是大批量的检测，1000个样品的话，做标准加入法是不是操作太麻烦啊，要不要一个样品做一系列标准啊。
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