对我来说是无所谓的

你是不会点燃的。

没有根据，我的不超过500000就行了

你的标准的浓度也太小了,配成0.50PPM-5.00PPM的就差不多,再着分析条件的选择也很重要,特别是观测高度,

死不了的

用两个标样做一条线,只能测含量介于两个标样之间的浓度.另外,ICP要注意基体匹配.

你主要是在哪个部分发生汞的残留？

不太常见.

我觉得这个值不错了啊对于这个元素来说~多个数据出来后做个数据统计看看吧

咨询厂家为好

一般来说，容易受到电压不稳定的干扰，电磁辐射的干扰还没遇到过。可能没有遇到过那么强烈的电磁辐射吧

最主要的不能有单纯盐酸的存在.否则会有H2S 损失的.

这样的操作要按标准要求进行

XRD就是X-射线衍射啊！可以分析物质的结晶状况，计算晶胞参数，还可以定性的分析元素·

SiF4是挥发性的.你觉得还是100%的Si吗?

有了解了一些

你指的仪器检出限吧，不同的仪器不同，需要自己测定。

这条路走不通的。

尖端不平可能室你辅助气开的太小了烧成的吧。

哪个厂家的ICP啊