背景发射强度高于目标波长对应的强度仪器所得的强度=目标物强度-背景强度如果目标物浓度很低或者根本没有该物质，背景就有可能高于目标波长的强度，所以得出是负值很正常的。解决的办法是：做背景校正，将左右背景点拉到峰谷处。另外，需要做空白值确认，若空白值过高，计算结果减空白的时候也会出现负值。

我所测定的硫位于紫外区了，处于边缘波长。所以我很关注的

买有证标准物质啊,然后配成混合标准溶液,我们就是这样做的,不过汞的浓度要很低.我们是配成0.05/0.1/0.5PPM的

可触及的非金属，包括涂层需要做。

很簡單的啊﹐問他們的技朮專家要SOP啊。

或者看看试剂的浓度和药典的要求是不是一致

根据样品的种类和含量区分，一般来讲，普通碳素钢中的硅含量较低，可以用酸溶，铁合金和铁精粉中的硅在3％左右，还可以，再高就需要用碱熔剂，进行熔融处理。

　　如果要是用ICP发射光谱测定的你怎么知道被测元素Sr发出了荧光呢？

不知道可不可以通过能力验证项目

　　检查一下看雾室是否有堵塞的地方，特别是废液排放出口。再有就是看一下炬管的中心管是否有积水。

有机样品进样的话得降低进样速率,增加RF功率.

看来ICPMS是大势所趋啊以后会跟气质一样的。

看看标物证书，上面有你需要的信息。

我们这边大概50元一个,多可以优惠

你不会自己装吧？还是要请气体公司的给装。一般不会更换气体的种类，因为清洗钢瓶比较麻烦。

一直用王水消化，不过也要看是什么样品的！

断电，关机～～～回家～～～

需要接通外面的管路到光学室，

最好每天都做曲线，或者一点或两点漂移校正

有时候不同实验室间的比对也许并不是那么容易实现，最现实的方法就是选用不同的方法做一下比对，这样结果应该是没问题的。