是哪条谱线?

就是把液体倒比色皿的时候多注意一下。然后把比色皿周围都试擦干净。不用腐蚀仪器

是否用到空压机--主要是看仪器怎样处理等离子体尾焰的--PE是采用空气刀切割尾焰的-所以会带有一个空压机-varian是采用冷锥（水冷氩气反吹式）-所以没有空压机，但会消耗5l/min左右的氩气

主要是看主要做什么样品吧，各个牌子的仪器有各自擅长的强项，我们单位就买的是JY的，呵呵

看来不是标配件吧，建议按合同的折扣与厂家买

我用的是利曼的Prodigy XP垂直观测系统的ICP-OES，忘了说我的ICP型号了

用户应该还是很多的，只是不知道这里面有没有！！

呵呵，Cs基本没测出过，要Ms来解决

大虾快快帮忙！！

空调位置安装不当对仪器的稳定有影响.

内标的浓度不要求很高也不能太低，一般几个ppm

即使你能测，但是也影响结果

在这两种装置中，由光子产生的电荷被收集并储存在金属-氧化物-半导（MOS）电容器中，从而可以准确地进行象素寻址而滞后极微。这两种装置具有随机或准随机象素寻址功能的二维检测器。可以将一个CCD看作是许多个光电检测模拟移位寄存器。在光子产生的电荷被贮存起来之后，它们近水平方向被一行一行地通过一个高速移位寄存器记录到一个前置放大器上。最后得到的信号被贮存在计算机里。　　CCD的整个工作过程是一种电荷耦合过程，因此这类器件叫电荷耦合器件。对于CCD器件，当一个或多个检测器的象素被某一强光谱线饱和时，便会产生溢流现象。即光子引发的电荷充满该象素，并流入相邻的象素，损坏该过饱和象素及其相邻象素的分析正确性，并且需要较长时间才能便溢流的电荷消失。为了解决溢流问题，应用于原子光谱分析的CCD器件，在设计过程中必须进行改进，例如：进行分段构成分段式电荷耦合器件（SCD），或在象表上加装溢流门，并结合自动积分技术等。　　CID是一种电荷注入器件（Charge-Injected Device），其基本结构与CCD相似，也是一种MOS结构，当栅极上加上电压时，表面形成少数载流子（电子）的势阱，入射光子在势阱邻近被吸收时，产生的电子被收集在势阱里，其积分过程与CCD一样。　　CID与CCD的主要区别在于读出过程，在CCD中信号电荷必须经过转移，才能读出，信号一经读取即刻消失。而在CID中信号电荷不用转移，是直接注入体内形成电流来读出的。即每当积分结束时，去掉栅极上的电压，存贮在势阱中的电荷少数载流子（电子）被注入到体内，从而在外电路中引起信号电流，这种读出方式称为非破坏性读取（Non-Destructive Read Out）,CID的NDRO特性使它具有优化指定波长处的信噪比（S/N）的功能。

我们公司用的ICP是用来监控电池材料的微量元素的,还有主量元素的化学组成

把一定质量的黄金用王水溶解，定容，再用ICP测金的含量，然后就可以算出黄金的纯度了

我这有默克的.

你说的是炬管吧

小心点火时击穿线圈,最好是点火前开冷却水,夏季湿度大很容易出现这种情况.不足为奇.因为不点火开冷却,线圈的温度要远低于室温,想想会出现什么情况?

我觉得你的雾化器可能被你弄坏了，雾化效果不稳定，你检查一下雾化器前端的毛细管又没有破损吧！你说的这个现象我没见过，我的雾化器坏了以后出现测量不稳定的现象！不知道你这个是什么原因

这东西一个是光栅，一个就是检测器，利曼的分光效果还好（看体积就知道）检测器够大（像素不是关键，尺寸才是王道，对比单反和卡片机就知道了），硬件还好，缺点就是软件，太不专业。还有就是废气，光室不是真空的，要充氩气，这是个问题