不用了，我已经找到了。

你是怎么洗的呀，建议时间长点。此方法一般的东西都可以洗掉，至少我还没遇到洗不下来的。呵呵！如果实在不行，建议你换一根吧。

我这里没有这本书,书店也没找到,能用稀王水溶吗?

我觉得还是XRF优于ICP,至少可以省去几道中间环节.

这个好像比较困难吧。我们地质的实验室也很少接触这些的。

不能用玻璃器皿，要用F4的器皿

用汞灯检查发现偏差还是用氘灯的谱线，有的厂商仪器可以用汞灯来校正波长，有的需要调整波长机构结合set offset

含量太低了,一般ICP测铅的检出限在20PPb以上,所以你的浓度太低了,要么增加称样量,要么改用石墨炉原子吸收测量,ICP测定铅不善常,尤其是低含量时更是.

Si偏低可能是因为你溶样时，溶液体积偏小，加上有的铸铁里Si含量高的话就容易稀出来，导致Si含量偏低

我们是采用碱熔，反酸化，测定样品的硅、铝、钙、镁、铁等元素。为了控制溶液中的盐量采取严格控制碱量。

其他条件相同的情况下，吸光度与样品有关。

呵呵看你测不测硅我有一次在瓶子里放了几个小时也是很低的氢氟酸结果硅的数就惨不忍睹了太高记得当时培训时工程师对新使用雾化室处理表面（防止室壁形成液滴）只用1%HF通1min

通常是你在冲洗的时候,雾化气流设置太大才会出现这个问题,在点火和测量过程中我从来没有遇见过,不过冲洗过程中这个问题不影响什么的.

报告限

这是两回事，通过比色得到的一个范围值，而通过ICP检测的值超过比色的上限．而仪器的检测效果确实不好，所以才提出这种怀疑．

一个点不好说明，最好多取几个点才有意义

通常两个月标定一次吧？

空白样放到样品室就好了

1,那你就单独配个PB的,是不是有什么反应发生导致的.2,测定易电离元素时功率要小一点.方便告诉我错误的号码吗

通常不会影响